PLM-J 試驗?zāi)シ蹤C

>> 產(chǎn)品說明 <<

PLM-J型實驗?zāi)シ蹤C偏心套軋距調(diào)節(jié)機構(gòu)和透明磨輥端面蓋板、透明圓篩罩，是一種可調(diào)軋距、 研磨和篩理過程全程可見的精密實驗?zāi)シ蹤C，磨粉過程與大型工業(yè)制粉過程類似，水分損失少，一般僅為0.2%-0.4%， 廣泛用于實驗室對小麥樣品進行實驗制粉，進行面團流變學(xué)特性、面制品制作實驗等分析，從而評價小麥粉品質(zhì)。

>> 技術(shù)優(yōu)勢 <<

偏心套軋距調(diào)節(jié)機構(gòu)，各對磨輥間隙均可調(diào)整，延長磨輥使用周期，確保研磨效果長期穩(wěn)定一致；

磨輥端面為透明蓋板，磨粉作業(yè)過程中，磨輥和麥渣均清晰可見；

圓筒篩置于透明的密封罩中，篩理過程清晰可見；

雙曲柄機構(gòu)驅(qū)動園筒篩做變速轉(zhuǎn)動，篩理效果好；

高效四輥連續(xù)三道研磨結(jié)構(gòu)，研磨過程水分損失小，樣品回收率高；

全合金磨輥經(jīng)淬火處理，硬度高，耐磨，使用壽命長；

磨輥更換方便快捷；

高精度，易操作；

技術(shù)參數(shù)：